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電子元器件試驗檢測

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在找電子元器件試驗檢測機構?百檢網為您提供電子元器件試驗檢測服務,專業工程師對接確認項目、標準后制定方案,包括電子元器件試驗檢測周期、報價、樣品等,確認無誤后安排寄樣檢測,電子元器件試驗檢測常規周期3-15個工作日,歡迎咨詢。

檢測樣品:紡織品、化妝品、食品、農產品、絕緣工具、五金件等

報告資質:CNAS/CMA/CAL

報告周期:常規3-15個工作日,特殊樣品、檢測項目除外。

檢測費用:根據檢測項目收費,詳情請咨詢百檢網。

電子元器件試驗檢測項目:

低溫測試,外觀目檢,密封,恒定加速度,溫度循環(溫度沖擊),粒子碰撞噪聲檢測,高低溫運行試驗,高溫儲存 (穩定性烘焙) /高溫壽命 (非工作),高溫壽命試驗/老煉試驗,高溫測試,可焊性

百檢檢測流程:

1、電話溝通、確認需求;

2、推薦方案、確認報價;

3、郵寄樣品、安排檢測;

4、進度跟蹤、結果反饋;

5、出具報告、售后服務;

6、如需加急、優先處理;

電子元器件試驗檢測標準:

1、半導體分立器件試驗方法GJB128A-1997方法1051 溫度循環(溫度沖擊)

2、微電子器件試驗方法和程序方法GJB548B-2005方法2020.1 微電子器件試驗方法和程序方法

3、GJB 2888A-2011 有失效率等級的功率型電磁繼電器通用規范 第4.8.3.2

4、微電子器件試驗方法和程序方法GJB548B-2005方法1015.1 高溫壽命試驗/老煉試驗

5、微電子器件試驗方法和程序方法GJB548B-2005方法1014.2 微電子器件試驗方法和程序方法

6、GJB548B-2005方法2003.1 可焊性

7、GJB128A-97方法2026 半導體分立器件試驗方法

8、微電子器件試驗方法和程序GJB548B-2005方法2009.1 外觀目檢

9、GJB GJB 548B-2005 微電子器件試驗方法和程序方法GJB GJB 548B-2005

10、GJB 128A-1997 半導體分立器件試驗方法 GJB 128A-1997

11、微電子器件試驗方法和程序方法GJB548B-2005方法5004.2 微電子器件試驗方法和程序方法

12、GJB 65B-1999 有可靠性指標的電磁繼電器總規范 4.8.5條

13、GJB 65B-1999 有可靠性指標的電磁繼電器總規范 GJB 65B-1999

14、GJB1513A-2009 混合和固體延時繼電器通用規范 4.7.3條

15、GJB 548B-2005 微電子器件試驗方法和程序方法GJB 方法5004.2

16、半導體分立器件試驗方法GJB128A-1997方法1071 密封

17、密封電磁繼電器篩選技術條件QJ789A-955.2、5.3 密封電磁繼電器篩選技術條件

18、微電子器件試驗方法和程序GJB548B-2005方法2001.1 恒定加速度

19、混合和固體延時繼電器通用規范GJB1513A-20094.7.2.3 溫度循環(溫度沖擊)

20、QJ 3253-2005 氣泡檢漏試驗方法 QJ3253-2005

一份檢測報告有什么用?

產品檢測報告主要反映了產品各項指標是否達到標準中的合格要求,能夠為企業產品研發、投標、電商平臺上架、商超入駐、學校科研提供客觀的參考。

百檢第三方機構檢測服務包括食品、環境、醫療、建材、電子、化工、汽車、家居、母嬰、玩具、箱包、水質、化妝品、紡織品、日化品、農產品等多項領域檢測服務,歡迎咨詢。