觸摸屏是目前*簡(jiǎn)單、方便和直接的一種人機(jī)交互方式。觸摸屏的應(yīng)用非常廣闊，汽車(chē)娛樂(lè)系統(tǒng)目前也普遍使用了觸摸屏，觸摸屏的應(yīng)用給駕駛者帶來(lái)了良好的用戶(hù)體驗(yàn)，同時(shí)也對(duì)汽車(chē)娛樂(lè)系統(tǒng)的EMC設(shè)計(jì)帶來(lái)了挑戰(zhàn)。
　　觸摸屏根據(jù)感應(yīng)原理可分為電阻式、電容式、聲波式和光學(xué)式等。目前，電容式觸摸屏憑借其高靈敏度、多點(diǎn)觸摸和壽命長(zhǎng)等特點(diǎn)，已成為汽車(chē)娛樂(lè)系統(tǒng)市場(chǎng)的主流。本文主要對(duì)電容觸摸屏進(jìn)行介紹和EMC設(shè)計(jì)分析。
　　1電容觸摸屏簡(jiǎn)介
　　當(dāng)手指觸摸在觸摸屏上時(shí)，手指和觸摸屏表面形成一個(gè)耦合電容，耦合電容對(duì)于觸摸屏表面的持續(xù)掃描脈沖信號(hào)是導(dǎo)體，于是手指吸收走一部分的電流，控制器通過(guò)對(duì)變化電流比例的計(jì)算得出觸摸點(diǎn)的位置。
　　觸摸屏的水平和垂直方向分布著若干根“X Line”和“Y Line”，X Line會(huì)發(fā)射100kHz至300kHz的脈沖信號(hào)，Y Line會(huì)接收到X Line耦合過(guò)來(lái)的信號(hào)。如果沒(méi)有手指觸摸，整個(gè)觸摸屏范圍內(nèi)的Y Line檢測(cè)的電流值是一定的，如果有手指觸摸，則Y Line上耦合到的信號(hào)會(huì)因?yàn)檫B接了手指產(chǎn)生的耦合電容而會(huì)發(fā)生明顯變化。
　　2電容觸摸屏的EMC設(shè)計(jì)
　　如上節(jié)所述，電容觸摸屏檢測(cè)用的脈沖信號(hào)頻率在100kHz至300kHz之間，汽車(chē)電子EMC測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)中的RE(Radiated Emission)和BCI(Bulk Current Injection)測(cè)試都覆蓋了這個(gè)頻段，如果處理不當(dāng)將很容易導(dǎo)致RE測(cè)試結(jié)果超標(biāo)和BCI測(cè)試時(shí)觸摸屏誤觸發(fā)。另外，由于電容觸摸屏在汽車(chē)電子EMC測(cè)試中需要經(jīng)受多次±25kV靜電放電測(cè)試，所以如果相關(guān)防護(hù)設(shè)計(jì)不夠理想，會(huì)容易導(dǎo)致觸摸屏損壞或者觸摸屏驅(qū)動(dòng)IC失效的問(wèn)題。
　　2.1電容觸摸屏RE問(wèn)題及解決措施
　　RE測(cè)試是衡量被試品通過(guò)空間輻射對(duì)其他設(shè)備的干擾能力。汽車(chē)電子的RE測(cè)試頻率一般從100kHz開(kāi)始，所以在低頻段會(huì)測(cè)出電容觸摸屏的檢測(cè)信號(hào)。在筆者一個(gè)項(xiàng)目的*次摸底時(shí)發(fā)現(xiàn)在低頻段嚴(yán)重超標(biāo)，如圖2紅色曲線所示。
　　通過(guò)排除法定位了騷擾源頭來(lái)自電容觸摸屏檢測(cè)用的脈沖信號(hào)，而此脈沖信號(hào)各參數(shù)完全是由觸摸屏控制器控制，要有效降低輻射值必須通過(guò)修改觸摸屏控制器的軟件設(shè)置來(lái)修改脈沖信號(hào)的參數(shù)。在不影響觸摸屏報(bào)點(diǎn)各項(xiàng)性能的前提下以下措施的應(yīng)用通過(guò)實(shí)驗(yàn)驗(yàn)證會(huì)明顯降低脈沖信號(hào)導(dǎo)致的電磁輻射。
　　（1）降低脈沖信號(hào)的電壓和電流。
　　觸摸屏在滿(mǎn)足充電時(shí)間時(shí)可以降低輸出脈沖信號(hào)的電壓和電流。
　　（2）脈沖上升沿設(shè)置為緩慢上升。
　　觸摸屏控制器為了縮短大尺寸觸摸屏屏充電時(shí)間從而提高報(bào)點(diǎn)率一般都會(huì)將脈沖上升沿配置為快速上升，即上升沿在100ns左右。而對(duì)于汽車(chē)電子產(chǎn)品，報(bào)點(diǎn)率不會(huì)要求太高的情況下可以將斜率改為緩慢上升，即上升沿在500ns左右。
　　（3）在觸摸屏無(wú)觸摸動(dòng)作10秒后工作模式從Active轉(zhuǎn)為Idle。
　　所謂Active模式是指控制器連續(xù)發(fā)出脈沖信號(hào)，Idle模式是指控制器間隔一段時(shí)間發(fā)出脈沖信號(hào)。這樣測(cè)試時(shí)天線在單個(gè)頻點(diǎn)單位時(shí)間內(nèi)檢測(cè)到的能量就少了很多。
　　（4）增大脈沖間隔時(shí)間和減少脈沖個(gè)數(shù)。
　　增大脈沖間隔時(shí)間和減少脈沖個(gè)數(shù)同樣可以降低天線在單個(gè)頻點(diǎn)單位時(shí)間內(nèi)檢測(cè)到的能量。
　　其中措施（1）和（2）會(huì)降低測(cè)試的峰值，措施（3）和（4）會(huì)降低測(cè)試的平均值和準(zhǔn)峰值。
　　2.2電容觸摸屏BCI問(wèn)題及解決措施
　　BCI是用來(lái)衡量各車(chē)載設(shè)備抵御耦合到線束上的射頻干擾信號(hào)的能力，是汽車(chē)電子產(chǎn)品常用的一種抗干擾型式試驗(yàn)方法。一般測(cè)試的頻率范圍是100kHz至400MHz。筆者一個(gè)項(xiàng)目在做BCI測(cè)試時(shí)發(fā)現(xiàn)在130kHz左右出現(xiàn)觸摸屏誤觸發(fā)的現(xiàn)象。根據(jù)觸摸屏的脈沖工作頻率，判定觸摸屏受到了BCI的同頻干擾。這個(gè)問(wèn)題同樣需要通過(guò)修改觸摸屏控制器的軟件設(shè)置來(lái)修改脈沖信號(hào)的參數(shù)。
　　BCI測(cè)試時(shí)觸摸屏的整體噪聲會(huì)明顯加大，加大到一定程度后將會(huì)影響觸摸屏報(bào)點(diǎn)的正確性，觸摸屏在檢測(cè)到時(shí)整體噪聲即將到影響正確報(bào)點(diǎn)時(shí)一般有下面兩種做法：
　　（1）屏蔽觸摸屏所有的報(bào)點(diǎn)；
　　（2）采用跳頻形式避開(kāi)干擾點(diǎn)。
　　對(duì)于EMC測(cè)試，因?yàn)闇y(cè)試頻率范圍很寬，所以一般采用第（1）種方法，而如果噪聲是來(lái)自產(chǎn)品本身且有固定的頻率（如開(kāi)關(guān)電源）可以采用第（2）種辦法。
　　另外，不同的客戶(hù)對(duì)BCI的測(cè)試方法和要求不完全一樣，有些客戶(hù)要求在BCI測(cè)試時(shí)同時(shí)有模擬手在不斷觸摸屏幕，同時(shí)不能有誤報(bào)點(diǎn)。這種測(cè)試要求下必須采用上述的第（2）種方法。當(dāng)客戶(hù)沒(méi)有此要求時(shí)可以采用第（1）種方法，相比第（2）種方法第（1）種方法更容易實(shí)現(xiàn)且效果更加明顯。
　　2.3電容觸摸屏ESD設(shè)計(jì)
　　ESD是觸摸屏EMC設(shè)計(jì)中*需要重點(diǎn)考慮的，因?yàn)橐坏〦SD失效，光靠像上述RE和BCI那樣修改觸摸屏控制器的軟件可能不能徹底解決問(wèn)題，還需要原理圖、PCB和結(jié)構(gòu)等共同配合解決，這些修改不但會(huì)影響項(xiàng)目的進(jìn)度而且會(huì)增加BOM成本。所以這里列出相關(guān)設(shè)計(jì)經(jīng)驗(yàn)供大家參考。
　　（1）確定觸摸屏玻璃厚度時(shí)需要參考*高測(cè)試電壓等級(jí)。確保ESD不會(huì)擊穿玻璃將觸摸屏傳感器打壞。
　　（2）觸摸屏傳感器的ITO“橋”在不影響透光率的前提下盡量做粗。ITO“橋”是傳感器*薄弱而容易被ESD打壞的地方，將“橋”做粗可以通過(guò)更大的ESD電流從而降低燒壞的概率。
　　（3）觸摸屏邊緣的地線盡量做粗。ESD容易對(duì)觸摸屏邊緣的保護(hù)地線放電，如果地線較細(xì)不能給ESD提供低阻抗的泄放回路，將會(huì)引起ESD流過(guò)傳感器。
　　（4）對(duì)于COF（Chip On FPC）的觸摸屏需要將控制器芯片的地與系統(tǒng)的地良好且可靠接觸。對(duì)于COB（Chip On Board）的觸摸屏需要將控制器芯片下面設(shè)置成完整的地平面并和系統(tǒng)地低阻抗連接。
　　（5）觸摸屏控制器的軟件需要設(shè)置屏蔽“大手指”的報(bào)點(diǎn)輸出。ESD對(duì)觸摸屏放電時(shí)，會(huì)引起觸摸屏表面較大面積的電荷變化，反饋到控制器就像一個(gè)很大的手指按上了一樣，軟件設(shè)置成屏蔽“大手指”后可以有效解決觸摸屏誤報(bào)點(diǎn)的問(wèn)題。
　　（6）原理圖設(shè)計(jì)時(shí)需要在觸摸屏與系統(tǒng)的接口處預(yù)留TVS等ESD保護(hù)措施。
　　（7）PCB layout時(shí)需要將觸摸屏與系統(tǒng)的通訊走線做包地處理，提高其抗干擾能力。